織構(gòu)分析
使用IμS進(jìn)行織構(gòu)測(cè)量? ?? ? ? ? Cu-Kα輻射IμS集成與 Bruker AXS GADDS系統(tǒng)，該系統(tǒng)還包含Eulerian cradle與V?NTEC2000面探測(cè)器，以用于YBCO基體中的BaHfO3納米顆粒的織構(gòu)測(cè)量。在約50分鐘內(nèi)（含所有機(jī)械移動(dòng)與讀出時(shí)間），此系統(tǒng)可記錄gamma范圍至65°的極相圖。
使用IμS進(jìn)行織構(gòu)測(cè)量
Cu-Kα輻射IμS集成與 Bruker AXS GADDS系統(tǒng)，該系統(tǒng)還包含Eulerian cradle與V?NTEC2000面探測(cè)器，以用于YBCO基體中的BaHfO3納米顆粒的織構(gòu)測(cè)量。在約50分鐘內(nèi)（含所有機(jī)械移動(dòng)與讀出時(shí)間），此系統(tǒng)可記錄gamma范圍至65°的極相圖。