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行轉(zhuǎn)移時(shí)間和像素讀出時(shí)間：
一個(gè)像素的電荷包移動(dòng)到下一個(gè)像素需要一定的時(shí)間，所需時(shí)間即為行轉(zhuǎn)移時(shí)間。像素的電荷包移入水平移位寄存器后，需要移出、放大和數(shù)字化處理，也需要一定的時(shí)間，所需時(shí)間稱為像素讀出時(shí)間，一般以讀出頻率給出。Greateyes CCD行轉(zhuǎn)移時(shí)間最大100μs。讀出頻率有3級可選；500kHz、1MHz和2.8MHz。轉(zhuǎn)移效率和損失率：電荷包在像素之間轉(zhuǎn)移和水平寄存器的轉(zhuǎn)移過程中，可能會(huì)有電子損失，這是CCD
2020-03-02
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芯片等級和缺陷(Blemish)
對最上面一行像素的電荷包，讀出時(shí)需要通過其所在列的所有像素。如果一列像素中的某個(gè)像素不能形成勢阱，或形成的勢阱有缺陷，則在其上面的行的像素電荷包就不能轉(zhuǎn)移出去或轉(zhuǎn)移不完全。這是一種缺陷。像素感光失效，或量子效率變低，這也是一種缺陷。缺陷的種類分為：Traps 陷阱：Pixels where charge is temporarily held. Traps are counted if they
2020-03-02
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CCD 輸出結(jié)構(gòu)
電荷包水平移位寄存器的最后一個(gè)寄存器后，需要將電荷包無破壞地以電流或以電壓的方式輸送出去。輸出結(jié)構(gòu)有：反偏二極管輸出結(jié)構(gòu)、浮置擴(kuò)散層（FD）輸出結(jié)構(gòu)、浮置柵結(jié)構(gòu)、分布式浮置柵結(jié)構(gòu)等。其中浮置擴(kuò)散層（FD）輸出結(jié)構(gòu)用得最多，如下圖：輸出柵極為一固定的中等電平，在Φreset為低電平，Φ3下降時(shí)，電荷包轉(zhuǎn)移到反偏二極管的位阱中，D點(diǎn)電位發(fā)生變化，被T2管放大、檢出，送至模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換電路（當(dāng)然也可以不
2020-03-02
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![CCD增益(Gain)和幀率（frame rate）]()
CCD增益(Gain)和幀率（frame rate）
電荷包對應(yīng)的數(shù)字量。一般表示為一個(gè)電子對應(yīng)多少個(gè)計(jì)數(shù)，或多少個(gè)計(jì)數(shù)對應(yīng)一個(gè)電子?？茖W(xué)級CCD大多數(shù)有多級增益可設(shè)置，以適合不同的光照條件（強(qiáng)光和弱光），高增益（高靈敏度）適合弱光，低增益適合強(qiáng)光（低靈敏度）。Greateyes以count/e給出這個(gè)性能指標(biāo)，有兩級增益可設(shè)置：
2020-03-02
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![像素讀出頻率的限制]()
像素讀出頻率的限制
下限：為避免熱激發(fā)產(chǎn)生的電子（暗電流）的影響，要求電荷包從一個(gè)柵極轉(zhuǎn)移到下一個(gè)柵極所用時(shí)間t必須小于暗電子（P-Si少子）的平均壽命τi，平均壽命與溫度相關(guān)，溫度越高，壽命越短。對三相耦合讀出結(jié)構(gòu)來說，讀出頻率： &nbs
2020-03-02
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![面陣CCD的體系結(jié)構(gòu)]()
面陣CCD的體系結(jié)構(gòu)
從前文可知，獲取一幅圖像的過程包括圖像獲取（曝光）和圖像讀出。因此，根據(jù)CCD感光單元（像素）和讀出電路布局的不同，主要有3種不同的體系結(jié)構(gòu)。1. 隔列轉(zhuǎn)移（Interline-Transfer）像素與轉(zhuǎn)移單元交替排列。像素曝光結(jié)束后，將電荷包轉(zhuǎn)移到轉(zhuǎn)移單元，可迅速開始下一次曝光。曝光期間，轉(zhuǎn)移單元將電
2020-03-02
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![Binning – 像素聯(lián)用]()
Binning – 像素聯(lián)用
Binning – 像素聯(lián)用分為硬件Binning和軟件Binning?？茖W(xué)級CCD通常都提供硬件Binning功能。硬件Binning：將幾個(gè)像素的信號在讀出之前相加，這種方式減少了讀出次數(shù)，因而減少了讀出噪聲，提高了信噪比。硬件Binning是在移位寄存器中完成的。如下圖，假設(shè)要進(jìn)行4像素聯(lián)用，下圖紅色虛框所示：讀出過程如下：1.?????&n
2020-03-02
