-
臺(tái)式XAFS、XES分析系統(tǒng)的發(fā)展解析
一X射線光譜學(xué)的發(fā)展現(xiàn)狀？x射線光譜學(xué)研究通常使用同步輻射源進(jìn)行，因?yàn)橥捷椛湓茨芴峁└吡炼?、相干、能量可調(diào)的單色X光。然而，基本同步輻射X射線發(fā)射光譜(XES)和X射線吸收光譜(XAS)的分析儀器，卻受到同步輻射的數(shù)量少和分析機(jī)時(shí)少的限制。使得很多的分析需求的科研工作者和工業(yè)客戶（Li電池公司，藥企）沒(méi)法申請(qǐng)到同步輻射機(jī)時(shí)。X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)光譜（XAFS）作為一種描繪局部結(jié)構(gòu)的方法，讓人捉摸不
2022-12-02
-
單色微 X 射線熒光 (MμXRF)
微 X 射線熒光 (μXRF) 是一種元素分析技術(shù)，它允許使用單色射線檢測(cè)非常小的樣品區(qū)域（通常直徑為幾十至幾百微米）。X 射線光學(xué)晶體可捕獲來(lái)自大角度發(fā)散源的 X 射線，并將其重新引導(dǎo)至樣品表面上形成強(qiáng)聚焦光束，以此來(lái)增強(qiáng) μXRF 應(yīng)用。單色 μXRF（或稱 MμXRF）采用了雙曲面彎晶光學(xué)晶體，這種晶體可將高強(qiáng)度微米級(jí)單色 X 射線束引導(dǎo)至樣品表面，用于加強(qiáng)元素分析。與 μXRF 技術(shù)相比，
2021-07-14 Karida
-
單色波長(zhǎng)色散 X 射線熒光 (MWD XRF)
雙曲面彎晶可用于增強(qiáng)傳統(tǒng)的波長(zhǎng)色散 XRF 儀器。這些基于衍射的光學(xué)晶體能夠使用低功率空氣冷卻式 X 射線管產(chǎn)生高強(qiáng)度單色 X 射線束。根據(jù)布拉格衍射定律，這些三維形狀的光學(xué)晶體選擇性地反射用于樣品激發(fā)的極窄 X 射線波長(zhǎng)帶。單色波長(zhǎng)色散 X 射線熒光 (MWD XRF) 分析儀使用兩個(gè)雙曲面彎晶光學(xué)晶體。典型儀器包括低功率 X 射線管、用于激發(fā)的點(diǎn)對(duì)點(diǎn)聚焦光學(xué)晶體、樣品池、用于熒光收集的第二聚焦
2021-07-14 Karida
-
XRF
什么是 XRFX 射線熒光 (XRF) 是一種強(qiáng)大的定量和定性分析工具，用于材料的元素分析。它非常適合測(cè)量薄膜厚度和成分，按固體和溶液的重量測(cè)定元素濃度，以及鑒定復(fù)雜樣品基質(zhì)中的特定元素和微量元素。XRF 分析廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、電信、微電子、金屬加工和精煉、食品、醫(yī)藥、化妝品、農(nóng)業(yè)、塑料、橡膠、紡織品、燃料、化學(xué)品和環(huán)境分析等許多行業(yè)。該方法快速、準(zhǔn)確、無(wú)損，幾乎無(wú)需樣品制備。XRF 如何工作當(dāng)樣
2021-07-14
-
![平行光束 X 射線衍射分析]()
平行光束 X 射線衍射分析
傳統(tǒng) XRD 的主要缺點(diǎn)在于，它通?；诰哂懈吖β室蟮凝嫶笤O(shè)備。此外，大多數(shù)傳統(tǒng)儀器使用仲聚焦布拉格-布倫塔諾幾何結(jié)構(gòu)，提供高分辨率和高強(qiáng)度光束分析等優(yōu)點(diǎn)，但需要應(yīng)對(duì)非常精確的校直要求并需要精心制備樣品。此外，這種幾何結(jié)構(gòu)要求從源到樣品的距離是恒定的，并且等于樣品到檢測(cè)儀的距離。因此產(chǎn)生的誤差常常導(dǎo)致相鑒定困難和量化不當(dāng)。錯(cuò)誤定位的樣品、部分透明的樣品或粗糙的樣品可能導(dǎo)致不可接受的樣品位移誤差。
2021-07-14 Karida
-
![Medipix 3和Timepix 3讀出芯片簡(jiǎn)介]()
Medipix 3和Timepix 3讀出芯片簡(jiǎn)介
Medipix 3和Timepix 3讀出芯片這兩種芯片都是CERN（歐洲核子研究委員會(huì)，Conseil Europeen pour la Recherche Nucleaire）主導(dǎo)的國(guó)際合作組織開(kāi)發(fā)的光子計(jì)數(shù)和粒子跟蹤像素探測(cè)器系列讀出芯片。兩種芯片的側(cè)重點(diǎn)不同。Medipix 3是第3代Medipix芯片，設(shè)計(jì)用于連接分段式半導(dǎo)體傳感器。和前身Medipix2一樣，它像相機(jī)一樣，在電子快門打
2020-03-02
-
![聚焦式X射線熒光]()
聚焦式X射線熒光
XRF 的應(yīng)用：共焦 X 射線熒光 打印共焦幾何結(jié)構(gòu)使用兩個(gè)多毛細(xì)管聚焦光學(xué)晶體來(lái)增強(qiáng) XRF 元素分析應(yīng)用。激發(fā)光學(xué)晶體將小束 X 射線聚焦到樣品上。檢測(cè)光學(xué)晶體從樣品收集熒光 X 射線。具體而言，元素濃度是在由激發(fā)光學(xué)晶體的輸出焦斑與收集光學(xué)晶體的輸入焦斑的交點(diǎn)所確定的小探測(cè)范圍（“共焦范圍”）內(nèi)測(cè)量的。該方法可用于放射性物質(zhì)中元素的檢測(cè)和量化。多毛細(xì)管聚焦光學(xué)晶體用作空間濾波器，以
2020-03-02 Karida
-
![閾值等值化方法（Threshold Equalization Method） - S曲線法（S-curves）]()
閾值等值化方法（Threshold Equalization Method） - S曲線法（S-curves）
閥值等值化方法（Threshold Equalization Method） - S曲線法（S-curves）單個(gè)像素250個(gè)測(cè)試不同幅度測(cè)試脈沖的計(jì)數(shù)結(jié)果：紅色與噪聲對(duì)應(yīng)（模擬的）。由上圖可見(jiàn)，當(dāng)全局閥值為0時(shí)，計(jì)數(shù)值飽和，完全是噪聲導(dǎo)致的。信號(hào)幅度一定時(shí)，計(jì)數(shù)曲線形如字母S，故稱為S曲線法。過(guò)程如下：1.設(shè)置測(cè)試脈沖幅度度、個(gè)數(shù)；2.進(jìn)行閥值掃描；3.計(jì)算所有像素計(jì)數(shù)平均值4.調(diào)整計(jì)數(shù)值偏離平
2020-03-02
