輝光放電質譜技術交流會-10月12日下午4點-GDMS應用網(wǎng)絡研討會
2020-10-09 13:32:46
Cavan
GDMS應用網(wǎng)絡研討會
2020年10月12日16：00-18：00
您了解過輝光放電質譜法嗎？
輝光放電質譜法作為一種固體樣品的直接分析方法，被認為是目前為止唯一的同時具有最廣泛的分析元素范圍和足夠靈敏度的元素分析方法，已成為固體材料多元素分析尤其是高純材料分析的強有力的工具，運用于金屬、合金、半導體等多種材料的分析。眾星聯(lián)恒將邀請專家為您帶來一場輝光放電質譜技術應用及輝光放電質譜儀器的分享會。
2020年10月12日16：00-18：00眾星聯(lián)恒將邀請三位GDMS領域內(nèi)的專家為大家?guī)頃袠I(yè)分享：
報告一：中國科學院上海硅酸鹽研究所無機材料分析測試中心副主任—錢榮，報告題目：射頻輝光放電質譜磁場增強技術的開發(fā)與應用。
報告二：國標（北京）檢驗認證有限公司高級工程師—劉紅，報告題目：輝光放電質譜法測定重摻晶體硅中替位碳含量。
報告三： MSI英國質譜儀器公司創(chuàng)始人—Ekbal PETAL，報告題目：Developments of GD90。
參會指南
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