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Review of Scientific Instruments - EXFEL單發(fā)硬X射線光譜儀

2020-10-14 09:37:30 Cavan

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司

近日歐洲自由電子激光的Naresh Kujala等研究人員,在Review of Scientific Instruments發(fā)表了一篇名為 “Hard x-ray single-shot spectrometer at the European X-ray Free-Electron Laser” 的文章。

 

X射線自由電子激光器(FEL),包括歐洲XFEL都是基于自放大自發(fā)輻射或SASE過(guò)程的原理。為了測(cè)量和研究SASE光譜,歐洲XFEL的X射線光子診斷團(tuán)隊(duì)在SASE1波蕩器光束線的光子通道中安裝了高分辨硬X射線單發(fā)(HIREX)光譜儀。文章詳細(xì)介紹了HIREX光譜儀的設(shè)計(jì)規(guī)格,安裝和調(diào)試。

 

該文章在近幾天可以免費(fèi)閱讀,感興趣的老師可以查看原文:https://aip.scitation.org/doi/10.1063/5.0019935。


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