ESRF網(wǎng)絡(luò)研討會(huì):看多尺度x射線斷層掃描技術(shù)助力工業(yè)材料的研究
2021-06-07 20:47:30

ESRF極其出色的同步輻射光源 (EBS) 可為快速和多分辨率斷層掃描提供 X射線。這種 3D 無損技術(shù)可對(duì)大樣品的內(nèi)部進(jìn)行成像。本次網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)將介紹ESRF的多尺度斷層掃描能力。
ESRF的斷層掃描X射線光束線分辨率覆蓋范圍很廣,從10個(gè)納米到幾個(gè)微米,所有行業(yè)均可使用。
利用同步輻射X射線的特殊性能,不同能量的X射線再加上不同類型的襯度可以用于掃描從軟物質(zhì)到金屬合金的大量樣品,應(yīng)用于能源、電子、航空航天、食品生物醫(yī)學(xué)、健康和機(jī)械工程等各個(gè)行業(yè)領(lǐng)域。超高速采集提供了良好的時(shí)間分辨率,并支持在特定樣品環(huán)境進(jìn)行原位實(shí)驗(yàn)的4D研究。
研討會(huì)舉辦時(shí)間:2021年6月15日 17:00 (北京時(shí)間)
此次研討會(huì)將在zoom上舉行,參會(huì)者可點(diǎn)擊下方鏈接注冊(cè)參會(huì),報(bào)名通過后會(huì)議前會(huì)發(fā)送入會(huì)鏈接。
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