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Talint EDU: 模塊化、高性價的X射線相襯、暗場成像套件

2023-06-19 16:49:51
北京眾星聯(lián)恒科技有限公司

傳統(tǒng)的 X 射線吸收成像相比,X 射線相位襯度成像能夠為輕元素樣品提供更高的襯度,特別適合用于對軟組織輕元素構(gòu)成的樣品進行成像。

目前,主要的 5 類相襯成像方式中,大部分對光源的相干性要求極高,只能在同步輻射光源或者借助微焦點X射線源實現(xiàn)。而光柵法相襯成像,經(jīng)過十多年的發(fā)展,已經(jīng)成為在實驗室實施相襯成像實驗的主流技術(shù)路線。但是,高深寬比和大視場光柵的制作一直是困擾研究人員的一個痛點,LIGA 技術(shù)的出現(xiàn)及成熟,使得制作此類的光柵的制作變得更加的容易及可靠。

基于 X 射線相襯成像的光柵利用 Talbot 自成像效應(yīng)來獲取有關(guān) X 射線因折射和散射而產(chǎn)生的微小角度偏轉(zhuǎn)的信息。這在醫(yī)學(xué)成像材料研究等各個領(lǐng)域都有潛在的應(yīng)用。

但是對于剛進入這一研究領(lǐng)域的科研工作者或者想單純快速相襯圖片的用戶來說,繁瑣的光柵參數(shù)模擬、全新開模制作光柵價格昂貴、與此同時精密平移臺的選擇及精密調(diào)節(jié)都將耗費大量的精力。

為了解決這個問題,德國 microworks 公司推出了一套模塊化高性價比的 X 射線相襯、暗場成像套件-TALINT EDU

TALINT EDU 套件





Microworks 的 TALINT- EDU 系統(tǒng)是一種緊湊、物美價廉 TALbot 干涉儀套件。它是 X 射線 Talbot-Lau 干涉儀的巧妙簡化形式,包括所有必要的硬件來建立和微調(diào)干涉儀,TALINT EDU 是一款靈活而精確的 X 射線光柵干涉儀,適用于 X 射線成像領(lǐng)域的研究人員,并且無需購買新的光源或探測器,TALINT EDU 可以輕松集成到現(xiàn)有的 X 射線設(shè)置中,組裝過程不到30分鐘。

這款干涉儀揭示了看不見的 TALINT 影像技術(shù),首先體現(xiàn)在成像模式的多功能性——通過相位步進步驟來獲得三種成像模式應(yīng)用:吸收成像、相襯成像和暗場成像相襯是由折射引起的,而暗場是由 X 射線的散射引起的。這增強了襯度,特別是對于低原子序數(shù),例如聚合物和碳復(fù)合材料。

TALINT EDU包裝一覽

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優(yōu)勢一: 高對比度成像

提高 X 射線成像的精度和效率

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飛蛾的 X 射線圖像,翅展 5 cm

吸收像(b)顯示了飛蛾的整體形狀,但很難看到翅膀內(nèi)部的細(xì)節(jié);使用 TALINT EDU 的相襯像(c) 和暗場像 (d) ,才真正觀察到內(nèi)部的精細(xì)結(jié)構(gòu)。

此處和下文顯示的所有 X 射線圖像均使用 Talint EDU 套件,光柵周期為 4.8 μm,能量 21 keV。X 射線系統(tǒng):光源峰值能量 21 keV 探測器像素尺寸 75 μm 。

優(yōu)勢二:多功能的應(yīng)用

TALINT 是一種靈活的解決方案,可用于研究廣泛的樣本范圍,包括生物、醫(yī)學(xué)、地質(zhì)、電子、技術(shù)等。

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5 厘米塑料片的 X 射線圖

使用 TALINT EDU探索塑料機械零件的復(fù)雜細(xì)節(jié)。查看傳統(tǒng)吸收像 (b) 與 TALINT EDU 相襯像 (c) 和暗場像 (d) 之間的明顯差異,即使是最細(xì)微的裂縫和結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)也能清晰地顯示出來。

優(yōu)勢三:檢測極小的缺陷

研究中的敏感檢測缺陷和不均勻性

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7cm 塑料片的 X 射線圖像

一張經(jīng)過反復(fù)彎折的塑料片的照片。其中,相襯圖像(c)十分清晰地顯示了由彎曲引起的缺陷。

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5 厘米蜻蜓幼蟲X射線圖像

傳統(tǒng)的成像技術(shù)很難捕捉到某些標(biāo)本的復(fù)雜細(xì)節(jié),例如蜻蜓幼蟲的極薄的外部骨骼。吸收和襯度比較低,信噪比 (SNR)較差。然而,TALINT EDU的暗場圖(d) 在這類場景中就發(fā)揮了作用,揭示了標(biāo)本以前看不見的最細(xì)微的細(xì)節(jié)。


用TALINT探索更多可能
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2cm 蠶繭 X 射線圖像

使用 TALINT EDU 得到的暗場圖,可觀察蠶繭的表面結(jié)構(gòu)和圍繞它的精致絲線;相襯成像圖像顯示了蠶體內(nèi)沿其長度延伸的身體部分和精細(xì)結(jié)構(gòu)的邊緣檢測能力增強。

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2 厘米玉米種子的 X 射線圖像

借助 TALINT EDU,玉米種子的復(fù)雜細(xì)節(jié)可以在相襯和暗場圖像中顯示出來。


TALINT EDU主要參數(shù)


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組選(含3塊光柵)

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Microworks

 德國 Microworks GmbH 基于其獨特的 LIGA 技術(shù),向廣大科研用戶提供定制化的微結(jié)構(gòu)加工服務(wù)。其中,它的X射線透射光柵在相襯成像領(lǐng)域,有著極高的聲譽。Microworks為X射線無損檢測(NDT)提供標(biāo)準(zhǔn)化和定制產(chǎn)品。在微納米技術(shù)領(lǐng)域,Microworks代表著高精度,其最高縱橫比和精度可以遠(yuǎn)低于 1 μm。

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司作為 Microworks 的中國大陸全權(quán)代理商,為中國用戶提供所有的售前咨詢,銷售及售后服務(wù),同時 TALINT EDU 干涉儀套件目前我們開放國內(nèi)試用, 如果您想體驗這款模塊化、操作簡易的 X 射線相襯、暗場成像套件, 歡迎聯(lián)系我們。

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