雙能與相襯成像的完美交響：全新inCiTe 2.0 X射線顯微鏡的奇妙之旅
我們的合作伙伴加拿大KA Imaging宣布推出其inCiTe 2.0 3D X射線顯微CT系統(tǒng)，在上一版本的基礎上，2.0版本集成了雙能成像和相襯成像功能。雙能成像功能可在一次掃描中實現多材料辨別，為航空航天、建筑和安全等行業(yè)提供創(chuàng)新的檢測解決方案。其先進的相襯成像技術增強了低密度材料和細微變化的分辨率，為成像應用提供了無與倫比的細節(jié)和清晰度。
inCiTe 2.0專為工業(yè)和研究應用而設計，為無損檢測提供高分辨率成像，使其成為傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡（SEM）的替代品。
Features
特點
● 模塊化設計
● 基于自由空間傳播的相襯成像
● 多能量X射線成像
● X射線源電壓高達130 kV
● X射線焦點尺寸低至2 μm（最大110 kV）
● 最大放大倍數下像素尺寸為0.8 μm
● 可容納直徑最大300 mm、高度最大200 mm的樣品
基于自由空間傳播的相襯成像
當傳統(tǒng)X射線方法難以處理軟組織或聚合物等低密度材料時，相襯成像方法至關重要。而為了捕獲X射線的相位信息，往往需要添加專門的光學元件，以便將相移信息轉換為探測器上的強度信息，例如光柵干涉儀。
一個更直接的實驗方式是通過X射線自由空間傳播來產生相位襯度，可以使X射線波前的相位變化（經過樣品）在探測器上以強度波動的形式可見，如下圖。雖然不需要額外的光學器件，但為了達到好的成像效果，需要足夠大的橫向空間相干長度（即光源的光斑尺寸要足夠?。┮约?span style="color: rgb(50, 151, 248);box-sizing: border-box;">高分辨率探測器。
inCiTe 2.0系統(tǒng)使用KA Imaing 自有專利的非晶硒（a-Se）X射線相機BrillianSe?。
BrillianSe? 是一種混合型 a-Se/CMOS 探測器，它使用具有高固有空間分辨率的非晶硒將 X 射線光子直接轉換為電荷。然后再通過低噪聲 CMOS 有源像素傳感器 (APS) 直接讀取電子信號。這樣的話，無需像間接閃爍體方法那樣先將 X 射線光子轉換為可見光，亦無需減薄轉換層以減小光學散射等效應。
BrillianSe?提供了基于8μm像素的高分辨率，又保證了能量高至100keV時的高探測量子效率（DQE）。這些特點使該探測器既可高效地用于高能低通量吸收成像，又可在低密度材料成像時通過同軸相襯增強機制來提升靈敏度。
多能量X射線成像
利用世界上首款便攜式的單曝光雙能X射線探測器 Reveal? 35C，得益于KA Imaging 獨有的雙能專利技術 SpectralDR?，inCiTe 2.0系統(tǒng)可以在一次X射線曝光后，同時提供 DR、高密度和低密度三幅圖像。
Reveal? 35C 具有獨特的三層堆疊設計，便于集成，量子效率高。與其他雙能解決方案不同，Reveal?35C只需要一次 X 射線曝光，即使用與常規(guī)X 光相同的輻射劑量，就能消除運動偽影，實現不同密度材料的區(qū)分。
Parameters
技術規(guī)格
X射線源
探測器
系統(tǒng)
inCiTe? 2.0 | |
三維尺寸 | 1800mm H x 1780mm L x 810mm W |
重量 | 1380 kg |
安裝要求 | 100-240 VAC, 50-60 Hz |
Applications
應用方向
● 無損檢測
● 航空航天部件檢驗
● 電池分析
● 建筑材料檢測
● 學術研究
● 安檢
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關于KA imaging
KA Imaging 源自加拿大滑鐵盧大學，成立于2015年。作為一家專門開發(fā)x射線成像技術和系統(tǒng)的公司，KA Imaging以創(chuàng)新為導向，致力于利用其先進的 X 射線技術為醫(yī)療、獸醫(yī)學和無損檢測工業(yè)市場提供最佳解決方案。公司擁有獨家開發(fā)并自有專利的高空間高分辨率非晶硒（a-Se）X射線探測器BrillianSe?，并基于此推出了商業(yè)化X射線桌面相襯微米CT inCiTe? 2.0。
北京眾星聯恒科技有限公司作為 KA Imaging 在中國地區(qū)的授權代理，全面負責 BrillianSe? 、Reveal?及 inCiTe? 在中國市場的產品售前咨詢，銷售以及售后業(yè)務。KA Imaging 將對眾星聯恒提供全面、深度的技術培訓和支持，以便更好地服務于中國客戶。眾星聯恒及我們來自全球高科技領域的合作伙伴們將繼續(xù)為中國廣大科研用戶及工業(yè)用戶帶來更多創(chuàng)新技術及前沿資訊！
內容 Albus
審核 凱文
編輯 小喬
