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X射線CMOS平板探測器及芯片

X射線CMOS平板探測器

用于無損檢測系統(tǒng)和科學成像應用

  • 產(chǎn)地:
  • 型號:
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產(chǎn)品介紹:

采用晶圓級CMOS芯片(50μm-150μm)+FOP+閃爍體設計,我司可提供不同規(guī)格的定制/標準型x射線探測器。我們的CMOS探測器可用于科學,醫(yī)療,獸醫(yī),安全和無損檢測工業(yè)應用。


規(guī)格參數(shù):

1. 高分辨率50μm CMOS傳感器


2824HR

1412HR

1206HR

0606HR

Active area (mm)

280 x 240

140 x 120

120 x 60

60 x 53.5

Image Resolution

5608 x 4800

2802 x 2400

2392 x 1200

1200 x 1072

Frame Rate (fps)

29

29

59

60 (USB)

DR (LFW/HFW)

74/79

74/79

74/79

74/79

Max Energy (kV)

225

225

225

225

Interface

CL, 10GigE, USB

CL, 5GigE, USB

CL, 5GigE, USB

GigE, USB


2. 高速率100μm CMOS傳感器


3131HS

2824HS

2121HS

1615HS

1510HS

Active area (mm)

309.5×307.3

280 x 240

205 x 205

161x 150

153.6 x 103.1

Image Resolution

3095 x 3073

2803 x 2401

2048 x 2048

1608 x 1500

1536 x 1030

Frame Rate (fps)

62

90

66

83 (USB)

66

DR (LFW/HFW)

72/76

70/74

74/79

73/77

74/79

Max Energy (kV)

160

225

225

120

120

Dimensions (mm)

341 x 380 x 45

315 x 316.5x 53

245 x 280 x 50

212 x 202 x 35

229 x 103 x 9.6

Interface

10GigE, USB

10GigE, USB

5GigE, USB

GigE, USB

USB


典型應用:

  • 工業(yè)X射線無損檢測

  • 質(zhì)子探測

  • 電子檢測

  • (預)臨床應用

  • 錐束CT

  • X 線透視檢查

  • X射線光柵法相襯成像


資料/文獻:

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司CMOS平板探測器 datasheet 2020.7.16.pdf




1. 高分辨率50μm CMOS傳感器


2824HR

1412HR

1206HR

0606HR

Active area (mm)

280 x 240

140 x 120

120 x 60

60 x 53.5

Image Resolution

5608 x 4800

2802 x 2400

2392 x 1200

1200 x 1072

Frame Rate (fps)

29

29

59

60 (USB)

DR (LFW/HFW)

74/79

74/79

74/79

74/79

Max Energy (kV)

225

225

225

225

Interface

CL, 10GigE, USB

CL, 5GigE, USB

CL, 5GigE, USB

GigE, USB


2. 高速率100μm CMOS傳感器


3131HS

2824HS

2121HS

1615HS

1510HS

Active area (mm)

309.5×307.3

280 x 240

205 x 205

161x 150

153.6 x 103.1

Image Resolution

3095 x 3073

2803 x 2401

2048 x 2048

1608 x 1500

1536 x 1030

Frame Rate (fps)

62

90

66

83 (USB)

66

DR (LFW/HFW)

72/76

70/74

74/79

73/77

74/79

Max Energy (kV)

160

225

225

120

120

Dimensions (mm)

341 x 380 x 45

315 x 316.5x 53

245 x 280 x 50

212 x 202 x 35

229 x 103 x 9.6

Interface

10GigE, USB

10GigE, USB

5GigE, USB

GigE, USB

USB



  • 工業(yè)X射線無損檢測

  • 質(zhì)子探測

  • 電子檢測

  • (預)臨床應用

  • 錐束CT

  • X 線透視檢查

  • X射線光柵法相襯成像

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司CMOS平板探測器 datasheet 2020.7.16.pdf


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