直讀型軟X射線桌面近邊X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜儀 200-1200eV/臺式XAFS
結(jié)合了高度可靠的激光驅(qū)動等離子體XUV光源和定制的具有1500極高分辨能力的光譜儀，proXAS是一個實驗室級別NEXAFS測量的系統(tǒng)。200-1200eV的能量范圍允許分析C，N，O，Ca，Ti等元素邊。
- 產(chǎn)地： 德國
- 型號： proXAS
- 品牌： HP Spectroscopy
公司介紹
德國HP Spectroscopy公司成立于2012年，致力于為全球科研及工業(yè)領域的客戶定制最佳解決方案，是科學儀器的全球供應商和領先開發(fā)商。產(chǎn)品線包括XAS系統(tǒng)，XUV/VUV/X-ray光譜儀，beamline產(chǎn)品等。主要團隊由x射線、光譜、光柵設計、等離子體物理、beamline等領域的專家組成。并與全球領先的研究機構(gòu)的科學家維持緊密合作，關(guān)注前沿技術(shù)，保持產(chǎn)品的迭代與創(chuàng)新。
產(chǎn)品簡介
首臺一體化桌面NEXAFS系統(tǒng)
不在需要申請和等待同步輻射機時
用于地質(zhì)、生物、材料研究的化學態(tài)分析
同步輻射級的光譜質(zhì)量
proXAS是一臺實驗室級別NEXAFS測量的系統(tǒng)。 現(xiàn)在可以在科研人員自己的實驗室進行獲得快速，準確的元素指紋分析。 它結(jié)合了高度可靠的激光驅(qū)動等離子體XUV光源和定制的具有1500極高分辨能力的光譜儀。200-1200eV的能量范圍允許分析C，N，O，Ca，Ti等元素邊。
proXAS可測量的元素范圍。
測量結(jié)果
左圖是用桌面系統(tǒng)測試200nm聚酰亞胺薄膜的碳K邊NEXAFS光譜（60發(fā)脈沖平均值）。右圖為桌面系統(tǒng)測試結(jié)果與同步輻射測試結(jié)果的對比。 (data courtesy of Dr. K. Mann, IFNANO) | |
proXAS測得的幾種有機物的 (a) C K邊、(b) Ca L邊及 (c) O K邊吸收譜 | |
proXAS對4種含鐵礦物（針鐵礦、赤鐵礦、水鐵礦和Cca-2綠泥石）的O K邊NEXAFS 測量結(jié)果（左）與同步輻射同類測試結(jié)果（右） | |
proXAS對PMDA-ODA聚酰亞胺的C K邊NEXAFS 測量結(jié)果（左）與同步輻射同類測試結(jié)果（右） | |
proXAS對CeO2的O元素的K邊的NEXAFS 測量結(jié)果（左），包含同類樣品的同步輻射測量結(jié)果（右） |
主要參數(shù)
光源 | 無碎片的激光驅(qū)動 XUV 光源 |
能量范圍 | 200-1200eV / 1-6nm |
重復頻率 | 25Hz |
光源功率穩(wěn)定性 | ±1.5% |
光譜儀 | 像差校正平場光譜儀 |
分辨率 | 1500 |
樣品安裝 | 多樣品轉(zhuǎn)輪 |
占地面積 | 1.5m x 1.0m |
軟件套件 | 集成系統(tǒng)控制，各種光譜校準和分析功能 |
主要應用
l 表面科學
l 地球化學中的化學狀態(tài)分析
l 電子結(jié)構(gòu)與氧化態(tài)分析
直讀型桌面X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜儀.2024.pdf
“足不出戶，走進XAFS” proXAS高分辨實驗室桌面NEXAFS譜儀助力材料化學結(jié)構(gòu)表征分析