產(chǎn)品簡介
攝譜儀和單色儀功能
具有最佳效率的光柵
波長范圍為1 ~ 200nm
高精度波長設(shè)置
緊湊、模塊化設(shè)計
得益于其無縫設(shè)計,maxLIGHT pro可提供同品類光譜儀中最大的集光量和最高的效率。經(jīng)像差校正的平場波長范圍可覆蓋1nm至200nm的寬光譜帶寬,比如,單個光柵可覆蓋5-80nm。
其模塊化設(shè)計能夠匹配不同的實驗配置。它具有集成的狹縫支架和濾光片插入單元,以及電動光柵定位。
靈活完善的探測器配置選項
nXUV CCD——高分辨高動態(tài)范圍應(yīng)用
MCP/CMOS——寬光譜范圍、門控或像增強探測需求可根據(jù)用戶要求進行定制
無縫設(shè)計
HPS公司專有的光譜儀設(shè)計使用光源直接成像技術(shù)。 因此,不需要狹窄的入口狹縫,并且可以最大程度地收集入射光。 與傳統(tǒng)的光譜儀架構(gòu)相比,到達探測器的光強會高出20倍。 該結(jié)構(gòu)還極大地提高了日常操作的穩(wěn)定性。
測量結(jié)果
在使用阿秒XUV脈沖的符合光譜應(yīng)用中,通過maxLIGHT XUV(左圖)對HHG進行表征。 高次諧波源自單光子躍遷(藍色箭頭),而XUV和IR光的雙光子躍遷則呈現(xiàn)為光電子譜的邊帶(右圖)。 J. Vos et al, Orientation-dependent stereo Wigner time delay and electron localization in a small molecule | |
通過maxLIGHT XUV測量的HHG光譜(右圖)和25fs基頻光脈沖在kagomé光子晶體光纖中寬化的光譜(左圖)。隨著泵浦能量的增加,孤子藍移對HHG的影響清晰可見。 F. Tani et al, Continuously wavelength-tunable high harmonic generation via soliton dynamics | |
在相同的信號強度下,與標(biāo)準(zhǔn)光譜儀(虛線)相比,maxLIGHT pro光譜儀(實線)的分辨率明顯更高。要獲得等價的光譜分辨率,傳統(tǒng)光譜儀技術(shù)需要設(shè)置窄狹縫,從而顯著降低信號強度。 C. Hauri et al, High-Harmonic Radiation for seeding the Swiss Free Electron Laser | |
用maxLIGHT XUV獲得的150kHz重頻下截止區(qū)域內(nèi)的HHG光譜。CEP的變化顯示出在某些CEP設(shè)置下強度調(diào)制開始消失,表明了獨立阿秒脈沖的存在。 M. Krebs et al, Towards isolated attosecond pulses at megahertz repetition rates | |
參考光譜示例證明了maxLIGHT光譜儀的分辨能力。如圖所示為飛秒激光脈沖和固體靶相互作用后,經(jīng)濾光片過濾后的高次諧波譜。諧波產(chǎn)生過程中所固有的精細結(jié)構(gòu)譜可以被maxLIGHT光譜儀清晰地分辨出來。圖片上半部分:由 X 射線 CCD 相機記錄的原始圖像。 圖片下半部分:通過列合并獲得的諧波譜。 L. Waldecker et al, Focusing of high order harmonics from solid density plasmas |
技術(shù)參數(shù)
Topology類型 | 像差校正平場光譜儀和光束分析儀 | ||
波長范圍 | 1-200nm | ||
光源距離 | 可根據(jù)用戶實際光路靈活調(diào)整 | ||
探測器類型 | CCD or MCP/CMOS | ||
真空兼容度 | <10-6mbar(UHV超高真空版可定制) | ||
無狹縫技術(shù) | 含 | ||
入射狹縫 | 可調(diào) | ||
光柵定位 | 閉環(huán)電控臺 | ||
濾光片插入裝置 | 含 | ||
控制接口 | USB 或 Ethernet | ||
軟件 | Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK | ||
定制化 | 可根據(jù)需求定制 | ||
可選項 | 非磁性,旋轉(zhuǎn)幾何,偏振測量等 | ||
SXR | XUV | VUV | |
波長范圍 | 1-20nm | 5-80nm | 40-200nm |
色散能力 | 0.2-0.4nm/mm | 0.5-1.3nm/mm | 0.9-1.6nm/mm |
分辨率 | <0.015nm at 10nm | <0.028nm at 40nm | <0.05nm at 120nm |
典型應(yīng)用
高次諧波發(fā)生源
阿秒科學(xué)
激光與物質(zhì)強烈的相互作用
自由電子激光
激光和放電產(chǎn)生的等離子體源
x射線激光
激光驅(qū)動二次源
資料/文獻
HP-Spectroscopy_maxLIGHT無狹縫平場XUV光譜儀和光束分析儀_datasheet_2021-5-19.pdf
公司介紹
德國HP Spectroscopy公司成立于2012年,致力于為全球科研及工業(yè)領(lǐng)域的客戶定制最佳解決方案,是科學(xué)儀器的全球供應(yīng)商和領(lǐng)先開發(fā)商。產(chǎn)品線包括XAS系統(tǒng),XUV/VUV/X-ray光譜儀,beamline產(chǎn)品等。主要團隊由x射線、光譜、光柵設(shè)計、等離子體物理、beamline等領(lǐng)域的專家組成。并與全球領(lǐng)先的研究機構(gòu)的科學(xué)家維持緊密合作,關(guān)注前沿技術(shù),保持產(chǎn)品的迭代與創(chuàng)新。
技術(shù)參數(shù)
Topology類型 | 像差校正平場光譜儀和光束分析儀 | ||
波長范圍 | 1-200nm | ||
光源距離 | 可根據(jù)用戶實際光路靈活調(diào)整 | ||
探測器類型 | CCD or MCP/CMOS | ||
真空兼容度 | <10-6mbar(UHV超高真空版可定制) | ||
無狹縫技術(shù) | 含 | ||
入射狹縫 | 可調(diào) | ||
光柵定位 | 閉環(huán)電控臺 | ||
濾光片插入裝置 | 含 | ||
控制接口 | USB 或 Ethernet | ||
軟件 | Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK | ||
定制化 | 可根據(jù)需求定制 | ||
可選項 | 非磁性,旋轉(zhuǎn)幾何,偏振測量等 | ||
SXR | XUV | VUV | |
波長范圍 | 1-20nm | 5-80nm | 40-200nm |
色散能力 | 0.2-0.4nm/mm | 0.5-1.3nm/mm | 0.9-1.6nm/mm |
分辨率 | <0.015nm at 10nm | <0.028nm at 40nm | <0.05nm at 120nm |
應(yīng)用
高次諧波發(fā)生源
阿秒科學(xué)
激光與物質(zhì)強烈的相互作用
自由電子激光
激光和放電產(chǎn)生的等離子體源
x射線激光
激光驅(qū)動二次源
HP-Spectroscopy_maxLIGHT無狹縫平場XUV光譜儀和光束分析儀_datasheet_2021-5-19.pdf