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XUV/VUV/X射線光譜儀

maxLIGHT無狹縫平場XUV光譜儀和光束分析儀

極紫外13.5nm波段優(yōu)化

  • 產(chǎn)地: 德國
  • 型號: maxLIGHT
  • 品牌: HP Spectroscopy

產(chǎn)品簡介

  • 攝譜儀和單色儀功能

  • 具有最佳效率的光柵

  • 波長范圍為1 ~ 200nm

  • 高精度波長設(shè)置

  • 緊湊、模塊化設(shè)計

得益于其無縫設(shè)計,maxLIGHT pro可提供同品類光譜儀中最大的集光量和最高的效率。經(jīng)像差校正的平場波長范圍可覆蓋1nm至200nm的寬光譜帶寬,比如,單個光柵可覆蓋5-80nm。

其模塊化設(shè)計能夠匹配不同的實驗配置。它具有集成的狹縫支架和濾光片插入單元,以及電動光柵定位。

靈活完善的探測器配置選項

nXUV CCD——高分辨高動態(tài)范圍應(yīng)用

MCP/CMOS——寬光譜范圍、門控或像增強探測需求可根據(jù)用戶要求進行定制

無縫設(shè)計

HPS公司專有的光譜儀設(shè)計使用光源直接成像技術(shù)。 因此,不需要狹窄的入口狹縫,并且可以最大程度地收集入射光。 與傳統(tǒng)的光譜儀架構(gòu)相比,到達探測器的光強會高出20倍。 該結(jié)構(gòu)還極大地提高了日常操作的穩(wěn)定性。

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司

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測量結(jié)果

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在使用阿秒XUV脈沖的符合光譜應(yīng)用中,通過maxLIGHT XUV(左圖)對HHG進行表征。

高次諧波源自單光子躍遷(藍色箭頭),而XUV和IR光的雙光子躍遷則呈現(xiàn)為光電子譜的邊帶(右圖)。

J. Vos et al, Orientation-dependent stereo Wigner time delay

and electron localization in a small molecule

Science 360 1326-1330 (2018)

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通過maxLIGHT XUV測量的HHG光譜(右圖)和25fs基頻光脈沖在kagomé光子晶體光纖中寬化的光譜(左圖)。隨著泵浦能量的增加,孤子藍移對HHG的影響清晰可見。

F. Tani et al, Continuously wavelength-tunable high harmonic generation via soliton dynamics

Opt. Lett. 42 1768-1771 (2017)

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在相同的信號強度下,與標(biāo)準(zhǔn)光譜儀(虛線)相比,maxLIGHT pro光譜儀(實線)的分辨率明顯更高。要獲得等價的光譜分辨率,傳統(tǒng)光譜儀技術(shù)需要設(shè)置窄狹縫,從而顯著降低信號強度。

C. Hauri et al, High-Harmonic Radiation for seeding the

Swiss Free Electron Laser
Andor Learning (2016)

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用maxLIGHT XUV獲得的150kHz重頻下截止區(qū)域內(nèi)的HHG光譜。CEP的變化顯示出在某些CEP設(shè)置下強度調(diào)制開始消失,表明了獨立阿秒脈沖的存在。

M. Krebs et al, Towards isolated attosecond pulses at

megahertz repetition rates

Nature Photonics 7 555–559 (2013)

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參考光譜示例證明了maxLIGHT光譜儀的分辨能力。如圖所示為飛秒激光脈沖和固體靶相互作用后,經(jīng)濾光片過濾后的高次諧波譜。諧波產(chǎn)生過程中所固有的精細結(jié)構(gòu)譜可以被maxLIGHT光譜儀清晰地分辨出來。圖片上半部分:由 X 射線 CCD 相機記錄的原始圖像。 圖片下半部分:通過列合并獲得的諧波譜。

L. Waldecker et al, Focusing of high order harmonics from solid density plasmas

Plasma Phys. Control. Fusion 53 124021 (2011)

技術(shù)參數(shù)

Topology類型

像差校正平場光譜儀和光束分析儀

波長范圍

1-200nm



光源距離

可根據(jù)用戶實際光路靈活調(diào)整

探測器類型

CCD or MCP/CMOS


真空兼容度

<10-6mbar(UHV超高真空版可定制)


無狹縫技術(shù)



入射狹縫

可調(diào)



光柵定位

閉環(huán)電控臺


濾光片插入裝置



控制接口

USB 或 Ethernet



軟件

Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK

定制化

可根據(jù)需求定制



可選項

非磁性,旋轉(zhuǎn)幾何,偏振測量等


SXR

XUV

VUV

波長范圍

1-20nm

5-80nm

40-200nm

色散能力

0.2-0.4nm/mm

0.5-1.3nm/mm

0.9-1.6nm/mm

分辨率

<0.015nm

at 10nm

<0.028nm

at 40nm

<0.05nm

at 120nm


典型應(yīng)用

  • 高次諧波發(fā)生源

  • 阿秒科學(xué)

  • 激光與物質(zhì)強烈的相互作用

  • 自由電子激光

  • 激光和放電產(chǎn)生的等離子體源

  • x射線激光

  • 激光驅(qū)動二次源


資料/文獻

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司HP-Spectroscopy_maxLIGHT無狹縫平場XUV光譜儀和光束分析儀_datasheet_2021-5-19.pdf


公司介紹

德國HP Spectroscopy公司成立于2012年,致力于為全球科研及工業(yè)領(lǐng)域的客戶定制最佳解決方案,是科學(xué)儀器的全球供應(yīng)商和領(lǐng)先開發(fā)商。產(chǎn)品線包括XAS系統(tǒng),XUV/VUV/X-ray光譜儀,beamline產(chǎn)品等。主要團隊由x射線、光譜、光柵設(shè)計、等離子體物理、beamline等領(lǐng)域的專家組成。并與全球領(lǐng)先的研究機構(gòu)的科學(xué)家維持緊密合作,關(guān)注前沿技術(shù),保持產(chǎn)品的迭代與創(chuàng)新。



技術(shù)參數(shù)

Topology類型

像差校正平場光譜儀和光束分析儀

波長范圍

1-200nm



光源距離

可根據(jù)用戶實際光路靈活調(diào)整

探測器類型

CCD or MCP/CMOS


真空兼容度

<10-6mbar(UHV超高真空版可定制)


無狹縫技術(shù)



入射狹縫

可調(diào)



光柵定位

閉環(huán)電控臺


濾光片插入裝置



控制接口

USB 或 Ethernet



軟件

Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK

定制化

可根據(jù)需求定制



可選項

非磁性,旋轉(zhuǎn)幾何,偏振測量等


SXR

XUV

VUV

波長范圍

1-20nm

5-80nm

40-200nm

色散能力

0.2-0.4nm/mm

0.5-1.3nm/mm

0.9-1.6nm/mm

分辨率

<0.015nm

at 10nm

<0.028nm

at 40nm

<0.05nm

at 120nm


應(yīng)用

  • 高次諧波發(fā)生源

  • 阿秒科學(xué)

  • 激光與物質(zhì)強烈的相互作用

  • 自由電子激光

  • 激光和放電產(chǎn)生的等離子體源

  • x射線激光

  • 激光驅(qū)動二次源


北京眾星聯(lián)恒科技有限公司HP-Spectroscopy_maxLIGHT無狹縫平場XUV光譜儀和光束分析儀_datasheet_2021-5-19.pdf


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