產(chǎn)品簡介
平場掠入射光譜儀
最佳光譜分辨率
波長范圍為1 ~ 100nm
高效率無狹縫模式
在易用型平場校正光譜儀市場中，highLIGHT具有較高的光譜分辨率。單次測量覆蓋寬光譜范圍的同時(shí)，可獲得優(yōu)于等于0.006nm的光譜分辨率。同時(shí)，客戶可以選擇是否使用入射狹縫。
集成了狹縫架、濾波器插入裝置、以及電動(dòng)光柵定位設(shè)備的模塊化設(shè)計(jì)特點(diǎn)，使其能夠匹配不同的實(shí)驗(yàn)幾何和構(gòu)型。
靈活完善的探測器配置選項(xiàng)
nXUV CCD——高分辨高動(dòng)態(tài)范圍應(yīng)用
nMCP/CMOS——寬光譜范圍、門控或像增強(qiáng)探測需求
無狹縫設(shè)計(jì)
HPS公司專有的光譜儀設(shè)計(jì)使用光源直接成像技術(shù)。 因此，不需要狹窄的入口狹縫，并且可以最大程度地收集入射光束。 與傳統(tǒng)的光譜儀相比，到達(dá)探測器的光強(qiáng)會(huì)高出20倍。 該結(jié)構(gòu)還極大地提高了日常操作的穩(wěn)定性。
|
|
測量結(jié)果
| 利用highLIGHT XUV獲得的倍頻摻鐿光纖激光系統(tǒng)(334kHz, 90uJ，<300fs)的第9次諧波和第11次諧波光譜。諧波帶寬為約20 meV（半高全寬），對應(yīng)的相對能量帶寬為ΔE/E = 7.5E-4。 V. Hilbert et al, A compact, turnkey, narrow-bandwidth, tunable, |
| 用highLIGHT SXR+在2.88nm（430eV，對應(yīng)1s2-1s2p躍遷）處獲得的氮譜線的發(fā)射譜測量結(jié)果。譜線的半高全寬是對應(yīng)1.7個(gè)CCD像元尺寸（13μm像元），對應(yīng)分辨能力為1890。該探測器的極限分辨能力可達(dá)3290。 data courtesy of Dr. K. Mann, Laser-Laboratorium G?ttingen |
規(guī)格參數(shù)
Topology類型 | 像差校正平場光譜儀 | ||
波長范圍 | 1-100nm | ||
光源距離 | 可根據(jù)用戶實(shí)際光路靈活調(diào)整 | ||
探測器類型 | CCD or MCP/CMOS | ||
真空兼容度 | |||
無狹縫技術(shù) | 是 | ||
入射狹縫 | 可選 | ||
光柵定位 | 閉環(huán)電控臺(tái) | ||
濾光片插入裝置 | 含 | ||
控制接口 | USB 或 Ethernet | ||
軟件 | Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK | ||
定制化 | 可根據(jù)需求定制 | ||
可選項(xiàng) | 非磁性，旋轉(zhuǎn)幾何等 | ||
SXR+ | SXR | XUV | |
波長范圍 | 1-5nm | 1-20nm | 5-100nm |
色散能力 | 0.06nm/mm | 0.1-0.2nm/mm | 0.2-0.7nm/mm |
分辨率 | <0.001nm at 3nm | <0.005nm at 10nm | <0.02nm at 60nm |
資料/文獻(xiàn)
HP-Spectroscopy_highLIGHT高分辨率平場XUV光譜儀_datasheet_2021-5-19.pdf
公司介紹
德國HP Spectroscopy公司成立于2012年，致力于為全球科研及工業(yè)領(lǐng)域的客戶定制最佳解決方案，是科學(xué)儀器的全球供應(yīng)商和領(lǐng)先開發(fā)商。產(chǎn)品線包括XAS系統(tǒng)，XUV/VUV/X-ray光譜儀，beamline產(chǎn)品等。主要團(tuán)隊(duì)由x射線、光譜、光柵設(shè)計(jì)、等離子體物理、beamline等領(lǐng)域的專家組成。并與全球領(lǐng)先的研究機(jī)構(gòu)的科學(xué)家維持緊密合作，關(guān)注前沿技術(shù)，保持產(chǎn)品的迭代與創(chuàng)新。
規(guī)格參數(shù)
Topology類型 | 像差校正平場光譜儀 | ||
波長范圍 | 1-100nm | ||
光源距離 | 可根據(jù)用戶實(shí)際光路靈活調(diào)整 | ||
探測器類型 | CCD or MCP/CMOS | ||
真空兼容度 | |||
無狹縫技術(shù) | 是 | ||
入射狹縫 | 可選 | ||
光柵定位 | 閉環(huán)電控臺(tái) | ||
濾光片插入裝置 | 含 | ||
控制接口 | USB 或 Ethernet | ||
軟件 | Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK | ||
定制化 | 可根據(jù)需求定制 | ||
可選項(xiàng) | 非磁性，旋轉(zhuǎn)幾何等 | ||
SXR+ | SXR | XUV | |
波長范圍 | 1-5nm | 1-20nm | 5-100nm |
色散能力 | 0.06nm/mm | 0.1-0.2nm/mm | 0.2-0.7nm/mm |
分辨率 | <0.001nm at 3nm | <0.005nm at 10nm | <0.02nm at 60nm |
HP-Spectroscopy_highLIGHT高分辨率平場XUV光譜儀_datasheet_2021-5-19.pdf