hardLIGHT TXS 中能X射線光譜儀
單次測(cè)量能譜可覆蓋2到4kev
- 產(chǎn)地: 德國(guó)
- 型號(hào): hardLIGHT TXS
- 品牌: HP Spectroscopy
單次測(cè)量能譜可覆蓋2到4kev
單次測(cè)量能譜可覆蓋2到4kev
用于在線光束表征的背散射模式
研究材料樣品的X射線發(fā)射譜
能量分辨率為0.3eV
設(shè)備結(jié)構(gòu)緊湊且可移動(dòng)
TXS光譜儀可對(duì)HHG光束線,X射線自由電子激光和臺(tái)式X射線激光進(jìn)行準(zhǔn)確的光診斷。單次測(cè)量能譜可覆蓋2到4kev。
在具有高效率背向散射的von Hamos光路幾何中,對(duì)于光束的在線表征,可實(shí)現(xiàn)對(duì)X射線光譜的指紋識(shí)別。 透射光束保持> 90%的透射率,可使進(jìn)一步的實(shí)驗(yàn)不受透射光強(qiáng)的影響。
通過簡(jiǎn)單地將背散射探針與材料樣品交換,hardLIGHT TXS即可用于X射線發(fā)射光譜(XES)。 中能X射線波段對(duì)許多材料的化學(xué)態(tài)都非常靈敏,如在電池研究中,2keV附近的硫光譜的精細(xì)結(jié)構(gòu)可反映出重要的信息和線索。
TXS光譜儀的定制設(shè)計(jì)需求是可討論的。
硫的K邊X射線吸收譜 (XAS) 中能X射線波段對(duì)許多材料的化學(xué)態(tài)都非常靈敏,如在電池研究中,2keV附近的硫光譜的精細(xì)結(jié)構(gòu)可反映出重要的信息和線索。 | hardLIGHT: 通過高透射率散射探針和發(fā)射光譜進(jìn)行 無(wú)干擾在線光束診斷 |
Topology/類型 | von Hamos |
能量范圍 | 2-4keV |
光源距離 | 可根據(jù)用戶實(shí)際光路靈活調(diào)整 |
探測(cè)器類型 | CCD/MCP/CMOS/或根據(jù)需要混搭 |
真空兼容度 | <10-6mbar (UHV version available) |
晶體定位 | 閉環(huán)電控臺(tái) |
濾光片插入單元 | 可選 |
數(shù)據(jù)接口 | USB 或 Ethernet |
軟件 | Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK |
定制能力 | 可根據(jù)需求定制 |
高次諧波光源的光子診斷,
x射線自由電子激光,桌面x射線激光
原位X射線發(fā)射譜測(cè)量
HP-Spectroscopy_hardLIGHT中能X射線光譜儀_datasheet_2021-5-19.pdf
德國(guó)HP Spectroscopy公司成立于2012年,致力于為全球科研及工業(yè)領(lǐng)域的客戶定制最佳解決方案,是科學(xué)儀器的全球供應(yīng)商和領(lǐng)先開發(fā)商。產(chǎn)品線包括XAS系統(tǒng),XUV/VUV/X-ray光譜儀,beamline產(chǎn)品等。主要團(tuán)隊(duì)由x射線、光譜、光柵設(shè)計(jì)、等離子體物理、beamline等領(lǐng)域的專家組成。并與全球領(lǐng)先的研究機(jī)構(gòu)的科學(xué)家維持緊密合作,關(guān)注前沿技術(shù),保持產(chǎn)品的迭代與創(chuàng)新。
Topology/類型 | von Hamos |
能量范圍 | 2-4keV |
光源距離 | 可根據(jù)用戶實(shí)際光路靈活調(diào)整 |
探測(cè)器類型 | CCD/MCP/CMOS/或根據(jù)需要混搭 |
真空兼容度 | <10-6mbar (UHV version available) |
晶體定位 | 閉環(huán)電控臺(tái) |
濾光片插入單元 | 可選 |
數(shù)據(jù)接口 | USB 或 Ethernet |
軟件 | Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK |
定制能力 | 可根據(jù)需求定制 |
應(yīng)用
高次諧波光源的光子診斷,
x射線自由電子激光,桌面x射線激光
原位X射線發(fā)射譜測(cè)量