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硅漂移X射線(xiàn)熒光光譜儀

硅漂移X射線(xiàn)光譜儀-用于實(shí)驗(yàn)室、科學(xué)研究(XRS)

適用于工業(yè)和實(shí)驗(yàn)室的X射線(xiàn)熒光分析等需要X射線(xiàn)能譜測(cè)量的應(yīng)用

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XRS是一套完備的X射線(xiàn)能譜探測(cè)系統(tǒng),由于探測(cè)器探頭、供電電源及DDP組成,非常適用于工業(yè)和實(shí)驗(yàn)室的X射線(xiàn)熒光分析等需要X射線(xiàn)能譜測(cè)量的應(yīng)用。單獨(dú)預(yù)先調(diào)整的系統(tǒng)參數(shù)與正確選擇 SDD 模塊類(lèi)型相結(jié)合,可在特定應(yīng)用領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)最佳性能和可靠性。

規(guī)格參數(shù):

◆有效探測(cè)面積:10-30 mm2

◆能量分辨率:125-129 eV FWHM @Mn-Ka,-30°

◆真空密封性:<0.01 mbar

◆窗口材料:BE,PTW(低能應(yīng)用)


XRS-The XRF Detector System參數(shù):

名稱(chēng)

有效面積

能量分辨率

峰背比@Mn_K

窗口材料

準(zhǔn)直器

SDD-10-130-BeP Complete XRS

10

129 eV 

4 500 

8 μm Be

3.2mm


SD3plus-10-125pnW-BeP Complete XRS

10

125 eV 

15000 

8 μm Be

3.1mm

SD3plus-10-125pnW-PTW Complete XRS

10

125 eV 

15000 

PTW 

3.1mm

SDDplus-30-128pnW-BeP Complete XRS

30

127 eV 

10000 

8 μm Be or PTW

5.8mm

主要特點(diǎn): 

  • 與數(shù)字脈沖處理器 (DPP) 或模擬整形器一起使用的高分辨率檢測(cè)器系統(tǒng)

  • XRF 窗口選項(xiàng)開(kāi)放式模塊 (OM)、超薄窗口 (UTW)、鈹或平面薄窗口 (PTW),用于檢測(cè)低至Li的輕元素

  • 真空密封探測(cè)器鼻子,可輕松適應(yīng)真空室

  • 第二個(gè) Peltier 用于在較高溫度下改善散熱

  • 用于完全可控 SDD 模塊條件的壓力和溫度監(jiān)控以及用于延長(zhǎng)模塊真空壽命的吸氣劑重新激活選項(xiàng)



XRS X射線(xiàn)光譜儀不同類(lèi)型平面薄窗口透過(guò)率

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司

XRS X射線(xiàn)光譜儀探測(cè)頭功能結(jié)構(gòu)示意圖

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司

不同芯片制冷問(wèn)題下能量分辨率


北京眾星聯(lián)恒科技有限公司

使用PTW窗口的、低至C的輕元素探測(cè)器性能

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司


典型應(yīng)用:

  • X射線(xiàn)熒光分析

  • X射線(xiàn)能譜測(cè)量


XRS-The XRF Detector System參數(shù):

名稱(chēng)

有效面積

能量分辨率

峰背比@Mn_K

窗口材料

準(zhǔn)直器

SDD-10-130-BeP Complete XRS

10

129 eV 

4 500 

8 μm Be

3.2mm


SD3plus-10-125pnW-BeP Complete XRS

10

125 eV 

15000 

8 μm Be

3.1mm

SD3plus-10-125pnW-PTW Complete XRS

10

125 eV 

15000 

PTW 

3.1mm

SDDplus-30-128pnW-BeP Complete XRS

30

127 eV 

10000 

8 μm Be or PTW

5.8mm


典型應(yīng)用:

  • X射線(xiàn)熒光分析

  • X射線(xiàn)能譜測(cè)量

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