硅漂移X射線(xiàn)光譜儀-用于實(shí)驗(yàn)室、科學(xué)研究(XRS)
適用于工業(yè)和實(shí)驗(yàn)室的X射線(xiàn)熒光分析等需要X射線(xiàn)能譜測(cè)量的應(yīng)用
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適用于工業(yè)和實(shí)驗(yàn)室的X射線(xiàn)熒光分析等需要X射線(xiàn)能譜測(cè)量的應(yīng)用
XRS是一套完備的X射線(xiàn)能譜探測(cè)系統(tǒng),由于探測(cè)器探頭、供電電源及DDP組成,非常適用于工業(yè)和實(shí)驗(yàn)室的X射線(xiàn)熒光分析等需要X射線(xiàn)能譜測(cè)量的應(yīng)用。單獨(dú)預(yù)先調(diào)整的系統(tǒng)參數(shù)與正確選擇 SDD 模塊類(lèi)型相結(jié)合,可在特定應(yīng)用領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)最佳性能和可靠性。
◆有效探測(cè)面積:10-30 mm2
◆能量分辨率:125-129 eV FWHM @Mn-Ka,-30°
◆真空密封性:<0.01 mbar
◆窗口材料:BE,PTW(低能應(yīng)用)
XRS-The XRF Detector System參數(shù):
名稱(chēng) | 有效面積 | 能量分辨率 | 峰背比@Mn_K | 窗口材料 | 準(zhǔn)直器 |
SDD-10-130-BeP Complete XRS | 10 | 129 eV | 4 500 | 8 μm Be | 3.2mm |
SD3plus-10-125pnW-BeP Complete XRS | 10 | 125 eV | 15000 | 8 μm Be | 3.1mm |
SD3plus-10-125pnW-PTW Complete XRS | 10 | 125 eV | 15000 | PTW | 3.1mm |
SDDplus-30-128pnW-BeP Complete XRS | 30 | 127 eV | 10000 | 8 μm Be or PTW | 5.8mm |
與數(shù)字脈沖處理器 (DPP) 或模擬整形器一起使用的高分辨率檢測(cè)器系統(tǒng)
XRF 窗口選項(xiàng)開(kāi)放式模塊 (OM)、超薄窗口 (UTW)、鈹或平面薄窗口 (PTW),用于檢測(cè)低至Li的輕元素
真空密封探測(cè)器鼻子,可輕松適應(yīng)真空室
第二個(gè) Peltier 用于在較高溫度下改善散熱
用于完全可控 SDD 模塊條件的壓力和溫度監(jiān)控以及用于延長(zhǎng)模塊真空壽命的吸氣劑重新激活選項(xiàng)
XRS X射線(xiàn)光譜儀不同類(lèi)型平面薄窗口透過(guò)率
XRS X射線(xiàn)光譜儀探測(cè)頭功能結(jié)構(gòu)示意圖
不同芯片制冷問(wèn)題下能量分辨率
使用PTW窗口的、低至C的輕元素探測(cè)器性能
X射線(xiàn)熒光分析
X射線(xiàn)能譜測(cè)量
XRS-The XRF Detector System參數(shù):
名稱(chēng) | 有效面積 | 能量分辨率 | 峰背比@Mn_K | 窗口材料 | 準(zhǔn)直器 |
SDD-10-130-BeP Complete XRS | 10 | 129 eV | 4 500 | 8 μm Be | 3.2mm |
SD3plus-10-125pnW-BeP Complete XRS | 10 | 125 eV | 15000 | 8 μm Be | 3.1mm |
SD3plus-10-125pnW-PTW Complete XRS | 10 | 125 eV | 15000 | PTW | 3.1mm |
SDDplus-30-128pnW-BeP Complete XRS | 30 | 127 eV | 10000 | 8 μm Be or PTW | 5.8mm |
典型應(yīng)用:
X射線(xiàn)熒光分析
X射線(xiàn)能譜測(cè)量