硅漂移X射線光譜儀-用于工業(yè)OEM及實驗室（XRP）
XRP硅漂移X射線光譜儀是一款緊湊型的設計，非常適合于集成于手持設備或工業(yè)設備中。它由一個密封的SDD模塊（該SDD基于芯片集成場效應晶體管和低噪聲前置放大器），供電電源及DPP組成。主要特性緊湊的高分辨率探測器，便于集成到客戶設備可與數(shù)字脈沖處理器配套使用壓力和溫度監(jiān)測完全可控的SDD模塊條件和吸氣劑激活選項以延長模塊真空壽命
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XRP硅漂移X射線光譜儀是一款緊湊型的設計，非常適合于集成于手持設備或工業(yè)設備中。它由一個密封的SDD模塊（該SDD基于芯片集成場效應晶體管和低噪聲前置放大器），供電電源及DPP組成。
主要參數(shù)：
◆有效探測面積：10-30 mm2
◆能量分辨率：127-130 eV FWHM @Mn-Ka，-30°
◆真空密封性：<0.01 mbar
◆窗口材料：Be
XRP-The XRF Preamplifier Module參數(shù)：
名稱 | 有效面積 | 能量分辨率 | 峰背比@Mn_K | 窗口材料 | 準直器 |
SDD-10-130-BeP Complete XRP | 10 | 130 eV ± 3eV | 4500 ± 1000 | 8 μm Be | 3.2mm |
SDDplus-10-130p-BeP Complete XRP | 10 | 128 eV ± 3eV | 7500 ± 2500 | 8 μm Be | 3.2mm |
SDDplus-30-128-BeP Complete XRP | 30 | 128 eV ± 3eV | 12500 ± 2500 | 8 μm Be | 5.8mm |
主要特性
緊湊的高分辨率探測器，便于集成到客戶設備
可與數(shù)字脈沖處理器配套使用
壓力和溫度監(jiān)測完全可控的SDD模塊條件和吸氣劑激活選項以延長模塊真空壽命
XRP X射線光譜儀探測頭功能結構示意圖
使用標準DPP測量高達500Kcps吞吐量
超強的抗輻射能力
芯片不同制冷溫度下的能力分辨能力
SDD芯片及配8微米Be窗的量子效率
典型應用：
X射線熒光分析
X射線能譜測量
XRP-The XRF Preamplifier Module參數(shù)：
名稱 | 有效面積 | 能量分辨率 | 峰背比@Mn_K | 窗口材料 | 準直器 |
SDD-10-130-BeP Complete XRP | 10 | 130 eV ± 3eV | 4500 ± 1000 | 8 μm Be | 3.2mm |
SDDplus-10-130p-BeP Complete XRP | 10 | 128 eV ± 3eV | 7500 ± 2500 | 8 μm Be | 3.2mm |
SDDplus-30-128-BeP Complete XRP | 30 | 128 eV ± 3eV | 12500 ± 2500 | 8 μm Be | 5.8mm |
X射線熒光分析
X射線能譜測量