XRS-A（一體機(jī)）在一個緊湊的設(shè)備中包含 XRF 光譜儀所需的所有組件，而不會影響性能。 它由帶有 ASIC 的密封 SDD 模塊以及低噪聲前置放大器、電源、珀爾帖控制和數(shù)字脈沖處理器DPP組成。主要特點：XRF 光譜儀易于在工業(yè)和實驗室中用于單個光譜生成以及在mapping模式下操作帶有 ASIC 前置放大器的 SDD 模塊，適用于高計數(shù)率應(yīng)用在高達(dá) > 1Mcps 的高輸入計數(shù)率下也具
XRS-A（一體機(jī)）在一個緊湊的設(shè)備中包含 XRF 光譜儀所需的所有組件，而不會影響性能。 它由帶有 ASIC 的密封 SDD 模塊以及低噪聲前置放大器、電源、珀爾帖控制和數(shù)字脈沖處理器DPP組成。
XRF 光譜儀易于在工業(yè)和實驗室中用于單個光譜生成以及在mapping模式下操作
帶有 ASIC 前置放大器的 SDD 模塊，適用于高計數(shù)率應(yīng)用
在高達(dá) > 1Mcps 的高輸入計數(shù)率下也具有出色的能量分辨率和峰值穩(wěn)定性
帶有檢測管的緊湊型外殼，適用于真空室
XRF 探測器窗口選項、鈹或 PTW-用于測量低至碳的輕元素
XRS- X射線光譜儀探測頭功能結(jié)構(gòu)示意圖
不同成峰時間下的能量分辨率
光譜帶寬穩(wěn)定性
光譜峰穩(wěn)定性
吞吐量性能
用于低能的XRF窗口
SDD芯片及配8微米Be窗的量子效率
名稱 | 有效面積 | 能量分辨率 | 峰背比@Mn_K | 窗口材料 | 準(zhǔn)直器 |
XRS-A 30-128-200-BeP MLC | 30 | 127 eV ± 2eV | 15000 ± 5000 | 8 μm Be | ?5.8mm多層膜 |
XRS-A-30-128-200-TPP MLC Complete XRP | 30 | 127 eV ± 2eV | 15000 ± 5000 | PTW-TPpro | ?5.8mm多層膜 |
XRS-A-30-128-200-LSP MLC Complete XRP | 30 | 127 eV ± 2eV | 15000 ± 5000 | TW-LSpro | ?5.8mm多層膜 |
XRS-A-30-128-200-TLP MLC Complete XRP | 30 | 127 eV ± 2eV | 15000 ± 5000 | TW-LSpro | ?5.8mm多層膜 |
XRS-A-60-128-200-BeP MLC Complete XRP | 60 | 129 eV ± 3eV | 15000 ± 5000 | 12 μm Be | ?8.1mm多層膜 |
X射線熒光分析
X射線能譜測量
名稱 | 有效面積 | 能量分辨率 | 峰背比@Mn_K | 窗口材料 | 準(zhǔn)直器 |
XRS-A 30-128-200-BeP MLC | 30 | 127 eV ± 2eV | 15000 ± 5000 | 8 μm Be | ?5.8mm多層膜 |
XRS-A-30-128-200-TPP MLC Complete XRP | 30 | 127 eV ± 2eV | 15000 ± 5000 | PTW-TPpro | ?5.8mm多層膜 |
XRS-A-30-128-200-LSP MLC Complete XRP | 30 | 127 eV ± 2eV | 15000 ± 5000 | TW-LSpro | ?5.8mm多層膜 |
XRS-A-30-128-200-TLP MLC Complete XRP | 30 | 127 eV ± 2eV | 15000 ± 5000 | TW-LSpro | ?5.8mm多層膜 |
XRS-A-60-128-200-BeP MLC Complete XRP | 60 | 129 eV ± 3eV | 15000 ± 5000 | 12 μm Be | ?8.1mm多層膜 |
X射線熒光分析
X射線能譜測量
