XAFS光譜數(shù)據(jù)解析

1.全套分析（XANES EXAFS WT）

X射線吸收精細結構譜（XAFS）可以分為三個部分，邊前區(qū)（Pre-edge）、近邊區(qū)(XANES)和擴展邊（EXAFS）。

（1）XANES可以得到吸收原子的電子結構，包括價態(tài)，對稱性，軌道占據(jù)等信息；

（2）EXAFS可以得到吸收原子周圍配位信息，包括配位原子種類鍵長，配位數(shù)，無序度等信息；

（3）小波變換可以得到區(qū)分出配位原子的距離（即鍵長），和配位原子的種類。

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Sci. China Chem. 66, 783–790 (2023).

產(chǎn)品說明：可以獲得測試樣品的具體價態(tài)

產(chǎn)品說明：通過對傅里葉變換，當材料中吸收原子周圍存在鄰近原子時，會在R空間光譜呈現(xiàn)出一種或多種路徑結構，通過路徑擬合分析可以獲得吸收原子的局域配位環(huán)境，包括配位原子種類、配位數(shù)、鍵長及無序度等信息。