能量色散 X 射線熒光 (ED XRF)
2019-05-09 15:42:43
能量色散 X 射線熒光 (ED XRF)
能量色散 X 射線熒光 (EDXRF) 是用于元素分析應(yīng)用的兩種通用型 X 射線熒光技術(shù)之一。在 EDXRF 光譜儀中，樣品中的所有元素都被同時(shí)激發(fā)，而能量色散檢測(cè)儀與多通道分析儀相結(jié)合，用于同時(shí)收集從樣品發(fā)射的熒光輻射，然后區(qū)分來(lái)自各個(gè)樣品元素的特性輻射的不同能量。EDXRF 系統(tǒng)的分辨率取決于檢測(cè)儀，通常范圍為 150 eV - 600 eV。EDXRF 系統(tǒng)的主要優(yōu)點(diǎn)是簡(jiǎn)單、快速、無(wú)運(yùn)動(dòng)部件和較高的源效率。
X 射線光學(xué)晶體可用于增強(qiáng) EDXRF 儀器。對(duì)于常規(guī) XRF 儀器，樣品表面典型焦斑尺寸的直徑范圍從幾百微米到幾毫米不等。多毛細(xì)管聚焦光學(xué)晶體從發(fā)散 X 射線源收集 X 射線，并將它們引導(dǎo)至樣品表面上形成直徑小到幾十微米的小聚焦光束。由此增加的強(qiáng)度以小焦斑傳遞到樣品，可增強(qiáng)用于小特性分析的空間分辨率和用于微 EDXRF 應(yīng)用的微量元素測(cè)量性能。
雙曲面彎晶光學(xué)晶體將高強(qiáng)度微米級(jí)單色 X 射線束引導(dǎo)至樣品表面，用于提升元素分析能力。
上述內(nèi)容來(lái)源于XOS官網(wǎng)