波長色散 X 射線熒光 (WDXRF)
2019-05-09 16:03:53
波長色散 X 射線熒光 (WDXRF)
波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 是用于元素分析應用的兩種通用型 X 射線熒光儀器之一。在 WDXRF 光譜儀中，樣品中的所有元素同時被激發(fā)。樣品發(fā)射的特性輻射的不同能量被分析晶體或單色儀衍射到不同方向（類似于棱鏡將不同顏色的可見光分散到不同方向）。通過將檢測儀置于一定角度，可以測量具有一定波長的 X 射線的強度。連續(xù)光譜儀使用測角儀上的移動探測器使其移動通過一定的角度范圍，以測量許多不同波長的強度。同步光譜儀配有一組固定的檢測系統(tǒng)，其中每個系統(tǒng)測量特定元素的輻射。WDXRF 系統(tǒng)的主要優(yōu)點是高分辨率（通常為 5 - 20 eV）和最小光譜重疊。
X 射線光學晶體可用于增強 WDXRF 儀器。對于常規(guī) XRF 儀器，樣品表面典型焦斑尺寸的直徑范圍從幾百微米到幾毫米不等。多毛細管聚焦光學晶體從發(fā)散 X 射線源收集 X 射線，并將它們引導至樣品表面上形成直徑小到幾十微米的小聚焦光束。由此增加的強度以小焦斑傳遞到樣品，可增強用于小特性分析的空間分辨率和用于微 WDXRF 應用的微量元素測量性能。多毛細管準直光學晶體允許從樣品表面上的小光斑有效地收集特性熒光 X 射線，并作為平行光束重新引導至分析平面晶體，以進行能量色散。
相反，可以使用雙曲面彎晶單色儀來收集從樣品發(fā)射的特定熒光，并將其引導至檢測儀，而不是使用多毛細管準直光學晶體和平面晶體來進行熒光收集和色散。
此外，可使用兩個雙曲面彎晶光學晶體進行單色 WDXRF，這種技術對于相關的特定樣品元素具有非常高的靈敏度。該技術已成功地應用于 XOS SINDIE 分析儀，用以測定石油中的低硫含量。
