X射線分辨率測試卡/評估模體概覽（0.01-50μm, 2/3D)）
空間分辨率是 CT 圖像質(zhì)量的兩項重要性能指標，其測試工作也是 CT 設(shè)備性能測試的重要內(nèi)容。對卡法，使用線對測試卡直接測試空間分辨率，由于操作方便、簡捷而被廣泛用于 實際工業(yè) CT 空間分辨率的測試中。
- 產(chǎn)地： 瑞士、德國
- 型號：
- 品牌： XRnanotech, Microworks
產(chǎn)品介紹
空間分辨率是 CT 圖像質(zhì)量的兩項重要性能指標，其測試工作也是 CT 設(shè)備性能測試的重要內(nèi)容。線對卡法，是使用線對測試卡直接測試空間分辨率，由于操作方便、簡捷而被廣泛用于 實際工業(yè) CT 空間分辨率的測試中。
眾星聯(lián)恒可提供各種類型的X射線分辨率測試卡/評估圖，它是X射線成像系統(tǒng)質(zhì)量控制和性能評估的理想工具。圖案類型包括線對、孔陣列和西門子星等。最小圖案尺寸低至10nm，面對高達~300kV及跟高的高分辨X射線應(yīng)用，我們可以提供厚達4μm的金吸收體，以滿足高能、高分辨的X射線成像系統(tǒng)的測試需求。
同時我們還可以提供：
用于納米CT體素校準的模體- Voxel-spirit 可實現(xiàn)快速和直觀的體素大小校準，Voxel-spirit 甚至可以滿足嚴格的視場 (FOV) 限制和高精度要求 。
遵從ASTM E1695-95的Resolution-spirit 通用模體組，適用于納米CT和微米CT的三維空間分辨精密評估。它適用于可變視場限制及高精度的需求。
帶有用于 nanoCT 和 microCT 測量的基準標記的樣品架-R1-Shadow，可以快速直觀地校正旋轉(zhuǎn)臺的不準確性和 CT 數(shù)據(jù)配準，適用于雙能量 CT 或 4D CT 等應(yīng)用。 R1-Shadow 是一種多用途解決方案，適合可變視場 (FOV) 限制和高精度要求。
如下是我們可以提供測試卡卡及模體的概述：
| 類型 | 圖案布局 | 圖案規(guī)格 | 吸收體類型及厚度 |
| 混合納米分辨率測卡 |  | 最小細節(jié)10nm | 100nm Ir，或者更高的Au |
3D西門子星分辨測試卡 |  | 最小細節(jié)小于200nm | 結(jié)構(gòu)高度200μm 尺寸Fhi 100μm |
| 顯微CT分辨測試卡（點擊查看詳情） |  | 布局由嵌套的L形組成，線寬為: 50 –40 –30 –20 –15 –10 –9 –8 –7 -6 -5 –4 –3 -2 –1.5 -1 –0.9 -0.8 -0.7 –0.6 -0.5 –0.4 /0.3 /0.2 /0.1（微米） | 4（for 0.4）μm 4（for 0.3）μm 1.5（for 1.5）μm 1（for 0.1）μm 厚金 |
Yxlon標準微米分辨率測試卡（點擊查看詳情）） |  | 5.0, 4.0, 3.2, 2.5, 2.0, 1.6, 1.3, 1.0, 0.9, 0.8, 0.7, 0.6, 0.5, 0.45, 0.4, 0.35, 0.3 μm線對 | 3 μm高金 |
| 外部尺寸: 1 x 1 cm2 包括 23 個方形開口（紅色方框A內(nèi)，5x5 μm2 ~ 1000x1000 μm2） 以及左上角的兩個矩形狹縫結(jié)構(gòu)（紅色方框B內(nèi)） 基底: 2.5 μm Ti （如有需要，可去除部分） | 厚度25 μm 金 | |
 | 4象限區(qū)域，每個區(qū)域4 mm x 4 mm，含兩個改良的西門子星，孔陣列（最小孔徑5微米），7組有不同方向的線對（12 μm, 10 μm, 8 μm, 6 μm, 5 μm, 4 μm, and 3 μm） | 8 μm高金 | |
| 球直徑: 0.5, 1.0, 2.5, 5.0mm < 1 μm to > 10 μm 體素尺寸CT應(yīng)用 遵從 ASTM E1695-95 標準 | 紅寶石 | |
| 球直徑: 0.3 mm 球距離: 0.45 mm (認證精度: 0.06 μm) <1 μm 體素CT應(yīng)用 | 紅寶石 | |
| 基準尺寸 [μm]: 25 25 50 100 適用于 Dual-Energy CT or 4D CT | 紅寶石 |
應(yīng)用文章（點擊閱讀）：