依托尖端設(shè)備和豐富的經(jīng)驗(yàn),我們能夠?yàn)榭蛻籼峁脑O(shè)計(jì)到成品的一站式解決方案,涵蓋電子束光刻、激光直寫、X射線光刻、雙光子聚合、極紫外激光干涉光刻、紫外光刻、電鍍等多種核心技術(shù)。產(chǎn)品線包括菲涅耳波帶片、納米級光柵、金剛石光學(xué)器件、納米分辨率測試卡、3D分辨率測試卡等。菲涅耳波帶片分辨率可低至<10nm,憑借獨(dú)特的 Ir-線倍增技術(shù),可以獲得精確到 5nm 的 X 射線束聚焦。
利用聚焦電子束在涂有電子敏感抗蝕劑(如PMMA)的基底上直寫圖案。當(dāng)電子束照射抗蝕劑時,會引起分子鏈斷裂或化學(xué)變化,從而改變抗蝕劑的溶解特性。經(jīng)過顯影處理后,未被曝光或被曝光的部分會被去除,形成所需的微納結(jié)構(gòu)。它以極高的分辨率著稱,適用于制作微小且復(fù)雜的納米結(jié)構(gòu)。
高精度加工,最小特征尺寸可達(dá)10nm
適用于各種薄膜基底(如Si、Si?N?、SiC、金剛石)上的納米結(jié)構(gòu)制造
支持4英寸晶圓加工
最高精度與分辨率結(jié)合快速圖案化能力
能夠制作特征尺寸小至100nm、高度達(dá)2μm的微結(jié)構(gòu)
模式放置極其精確,誤差小于100nm,適用于大面積(數(shù)厘米)范圍
X射線掩模的設(shè)計(jì)與制造
小周期X射線光柵的高性能要求
高分辨率菲涅爾波帶片和其他精密納米結(jié)構(gòu)